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致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測(cè)試系統(tǒng) 50/100MHz測(cè)試工作頻率 1024個(gè) I/O 通道（I/O Channel） 32M （64M Max.） Pattern 記憶體 （Pattern Memory） Per-Pin 彈性資源架構(gòu) 512 DUTS 平行測(cè)試功能 96個(gè)電源通道 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器 （Algorithmic Pattern Gener

致茂Chroma 3680 *SoC/模擬測(cè)試系統(tǒng) 24個(gè)可互換插槽，用于數(shù)字，模擬和混合信號(hào)應(yīng)用 150 Mbps數(shù)據(jù)速率 （muxed模式蕞高1Gbps） 蕞高512 sites并行測(cè)試 多達(dá)2048個(gè)數(shù)字通道管腳 256 MW向量存儲(chǔ)深度 （512 MW可選配）（X2模式） 64通道高精度測(cè)量PMU

致茂Chroma 8000 光伏逆變器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 以Chroma 8000 ATS為基礎(chǔ)的客制化系統(tǒng)，專門針對(duì)光伏逆變器測(cè)試驗(yàn)證。 Chroma 8000自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)配備了優(yōu)化的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目，針對(duì)光伏逆變器，符合EN50530、Sandia Lab、IEEE1547、1547.1、UL1741、中國(guó)國(guó)標(biāo)GB/T 19939、CGC/GF004/GF035（NB/T 32004）的電氣初步

Chroma7210光伏電池表面品質(zhì)檢查暨分色系統(tǒng) 安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或終端分選設(shè)備 光伏電池正面或背面印刷瑕疵皆可檢測(cè) 可檢測(cè)PERC和Bifacial制程所產(chǎn)生的瑕疵

致茂Chroma 7231 光伏硅片線鋸痕檢測(cè)機(jī) 可整合到任何硅片分選機(jī)上 可調(diào)整式的演算法可供檢測(cè)5“、6“以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片 多樣化介面選擇可與不同設(shè)備或者M(jìn)ES系統(tǒng)連線 遵守EN 50513 2009來進(jìn)行硅片線鋸痕檢測(cè)